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AFM/SPM PROBE
(원자현미경/주사탐침현미경 탐침)
Product Description | |||
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- 일반적인 Contact mode(450um) 제품에 비해 cantilever 길이가 225um로 짧음 - Long cantilever non-contact mode(225um) 프로브(PR-T190,NCLR, FMR 등)와 혼용하여 사용하면 cantilever 길이가 같아 레이저 얼라인에 있어 비교적 수월 - 실리콘 단결정 재질에 반사면 Al Coating으로 레이저 반사효율이 좋음 - 프로브 칩에 Groove가 있어 Alignment Chip과 함께 사용가능 - 장비 제작사별 마운팅 옵션 선택가능 - 사용가능 AFM/SPM 장비: AFMWorkShop A.P.E.Research Bruker / J.P.K / S.I.S-GmbH / Veeco / DI Em4sys Hitachi / Seiko Keysight / Agilent / Pacific NanoTechnology / MI NanoFocus NanoInk Oxford / Asylum Park Systems / PSIA Probes 등. 모든 상용화 장비
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Coating Description | |||
The reflex coating is an approximately 30 nm thick aluminum coating on the detector side of the cantilever which enhances the reflectivity of the laser beam by a factor of about 2.5. Furthermore it prevents light from interfering within the cantilever. The virtually stress-free coating is bending the cantilever less than 2% of the cantilever length. | |||
AFM Tip | |||
Shape | Rotated | ||
Height | 12um (10-15um) | ||
Radius | |||
AFM Cantilever | |||
Shape | Beam | ||
Length | 225um (215-235um) | ||
Width | 48um (40-55um) | ||
Thickness | 1um (0.1-2um) | ||
Force Constant | 0.2N/m (0.01-1.87N/m) | ||
Resonance Frequency | 25kHz (1-57kHz) | ||